報道稱，除了散粒噪聲極限的問題，光子攜帶的信息也可能被光子之間產生的亞原子噪聲掩蓋，探測裝置無法進行可靠的測量，原因是光子像隨機發射的彈丸一樣撞擊探測裝置，所謂散粒正是由此得名。由郭光燦教授和李傳鋒教授率領的中國科學技術大學研究團隊宣布，他們使用高精密的量子弱測量技術突破了散粒噪聲極限，即便在光子數量非常少的情況下也能實現精確探測。
報道稱，該技術源於量子物理學中的一個悖論。在亞原子世界中，測量意味著破壞。對亞原子顆粒進行測量會不可避免地破壞它的初始量子態。但在上世紀80年代，科學家終於找到解決辦法。采用弱測量方法不會造成量子態的坍縮。雖然每一次弱測量只能取得少量的信息，但是對同一些粒子進行反複測量，就能够得到關於屬性的穩健統計量，即正確的猜測值。但是，早期的弱測量方案效率很低。只能測量探測距離內很少比例的光子，其餘的光子都被廢棄了。
報道稱，近些年，科學家研究出一種名為能量循環測量的新方法，將光子放在一種特制的裝置中進行循環，從而減少廢棄的光子數量。中國科學技術大學的研究團隊進行了激光束偏折測量試驗，證明這種方法可以突破散粒噪聲極限。他們說，不僅探測到信號強度不到散粒噪聲極限一半的信號，并且將精確度提高到了1.5倍。
南京大學的那位教授說，這一技術“肯定”可以用於量子雷達。報道稱，不過，清華大學一位量子學家對這一技術短期內投入實用表示懷疑。這位要求匿名的量子學家說：“到目前為止，我還沒有聽說弱測量學有任何實際應用。弱測量仍然是測量，會不可避免地改變測量對象的狀態，因而限制了這門技術的應用前景。”
“弱測量向我們展示的究竟是真實的物理觀測，還是只是數學幻象，現在仍然有爭議。” |
